铁电薄膜铁电性能——电滞回线的测量方法选择

 铁电薄膜铁电性能——电滞回线的测量方法选择

    目前，测量电滞回线的方法较多。其中测试方法简单、应用广泛的是Sawyer-Tower电路，如图所示，其中虚框部分为铁电薄膜样品的等效电 路，Cxi为线性感应等效电容，Rx为铁电薄膜样品的 漏电导及损耗等效电阻，Cxs为与自发极化反转对应的非线性等效电容。

Sawyer-Tower电路

    在理想情况下，若只考虑Cxs的作用（认为Cxi与Rx开路）,很容易证明Uy与铁电薄膜样品的极化强度P成正比。但一般情况下，铁电薄膜样品同时具有漏电导和线性感应电容，如果要获得铁电薄 膜样品的木征电滞回线，必须在测贵过程中对样品的漏电导和线性感应电容进行合适的补偿，但这在实际测中是较难处理的。另外，此电路中外接积分电容Co的选取和精度会影响测试的度，当然给铁屯薄膜样品提供的信号源U的频率对测试结果也有很大的影响，这样就较难对测试结果进行标定和校准。

    我们选用如下图所示的测量电路，此电路由信号源U、被测样品、电流放大器和积分器组成。信号源U提供给被测样品的电流经电流放大器放大再经积分器积分后得到Uy进入测量系统。即使被测样品端加的电压U为零，积分器上仍然维持电压,被测样品端是虚地的，因此，此测试电路讨称为虚地模式。此电路取消了外接电容Co,可减小寄生元件的影响。此电路的测试精度仅取决于积分器积分电容C1的精度，减少了对测试的影响环节，比较容易定标和校准，并且能实现较高的测贵度。

电滞回线测量电路